-透明材料、鏡面材料、高反射材料の3次元検出に適している
-詳細なRAWデータを記録し、さまざまな形式の2D/3Dグラフィックを生成できる
・2048点/プロフィール、0.2μm Z軸再現性
-超高速スキャン：35000行/秒
-完全なSDKとワンストップソフトウェアサポートサービス
・産業の精密測定や科学研究への応用
| モデル | HPS-LCF2000 | 視野(mm) | 6 |
| 測定範囲(mm) | 2.4 | X解像度(μm) | 2.9 |
| Z再現性①（μm） | 0.2 | 最大スキャンレート②(Hz) | 35000 |
| データポイント/X | 2048 | 全測定範囲スイープレート③(Hz) | 5000 |
| 距離(mm) | 19 | 最大鏡面スロープ(度) | ±15 |
| 寸法(H*W*D)(mm) | 276*341.1*75.5 | 重量（kg） | 8 |
| エントリー保護レベル（EN 60529） | 保護レベル55 | どうりょく | 24 VDC、2A |
| PC接続 | 40ギガバイト | ディジタルにゅうりょく | 光カプラ入出力 |
*①この値は3σ値で、弊社クリーンラボ光学プラットフォーム上で鏡面標準ゲージを測定したものです。等高線数：20万;統合時間：200usライト信号強度(手動調整)：20%。
※②この走査速度での測定範囲は、全範囲の1/8です。
*③この速度でのX方向スキャンポイント数は1024個、全測定範囲スキャンレート（2048個）は2400Hzです。
*すべての技術仕様は最新の公式データシートに準拠しています。ヘイバーソンは最終解釈権を留保する。
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